Fabrikasi Dan Karakterisasi Mortar Semen Yang Dilapisi Lapisan Tio2 Bersifat SelfCleaning

Authors

Abstract

Perkembangan industri menyebabkan jumlah polutan meningkat dan berdampak buruk bagi lingkungan terutama pada bangunan-bangunan di sekitar. Oleh karena itu dibutuhkan membuat mortar semen yang anti kotoran atau yang bersifat selfcleaning untuk melindungi mortar dari debu, kotoran, dan serapan air yang dapat merusak. Salah satu upaya tersebut ialah dengan memanfaatkan efek fotokatalis smart material berbasis titanium dioksida (TiO2). Tujuan penelitian ini adalah mengetahui karakteristik lapisan TiO2 terhadap pengaruh kondisi lingkungan, pengaruh pada sudut kontak yang terbentuk pada selfcleaning, pengaruh fotokatalis pada self-cleaning, serta mengetahui pengaruh komposisi TiO2 yang ideal. Komposisi lapisan TiO2 dibuat bervariasi, yaitu 2 gram, 4 gram, dan 6 gram, dan variasi tambahan dengan mencampurkan 1 gram PEG 4000 dari setiap komposisi TiO2 tersebut. Dan komposisi TiO2 dicampurkan langsung pada mortar semen, yaitu 50 gram, 100 gram, dan 150 gram. Pengujian selfcleaning menggunakan jenis pengotor Methylene Blue. Hasil terbaik kondisi permukaan mortar semen akibat proses fotokatalis bersifat self-cleaning didapatkan pada sampel dengan lapisan TiO2 komposisi 6 gram pada penjemuran di bawah matahari dengan persentase rata-rata tingkat kepekatan warna zat pengotor sebesar 35,12%. Sedangkan hasil pengujian sudut kontak pada permukaan mortar semen bersifat hidrofilik, dengan sudut kontak 19,5º pada mortar semen yang dicampurkan langsung TiO2 dengan komposisi 150 gram.

Kata Kunci - Fotokatalis, self-cleaning, mortar semen, sudut kontak, TiO2.

References

D. Y. Akbar,

Kemampuan Self Cleaning Pada Kaca Dengan

Dispersant Polietilen Glikol (PEG) 4000,= 2015.

A. P. Sihombing, Y. Afrizal, and A. Gunawan,

Kuat Tekan Mortar,= Inersia, J. Tek. Sipil, vol. 10, no.

, pp. 31-38, 2019, doi: 10.33369/ijts.10.1.31-38.

H. Sanusi, S. H. S., and D. T. Susetianingtias,

Menggunakan Ruang Warna Rgb Dan Hsv,= J. Ilm.

Inform. Komput., vol. 24, no. 3, pp. 180-190, 2019, doi:

35760/ik.2019.v24i3.2323.

Published

2024-04-01

Issue

Section

Program Studi S1 Teknik Fisika